ナノテスティング学会

招待講演

・赤堀　浩史　Rapidus株式会社 

   ご講演題目：Rapidusの挑戦と、それを支える検査計測技術 (仮)

・小寺　哲夫　東京科学大学

   ご講演題目：半導体量子ビット研究の基礎と研究動向 (仮)

・蛭田智昭　株式会社 日立製作所

  ご講演題目：生成AI 支援による設備・保全知識構築と、保全アプリケーション開発 (仮)

チュートリアル

 ・姚 永昭　三重大学

   ご講演題目：半導体ウェハ全面に分布する格子欠陥の可視化技術