ナノテスティング学会

招待講演

 ・堀川　剛 　東京科学大学 工学院　電気電子系 特任教授　 　

　ご講演題目「光電融合デバイスのテスティング課題 (仮)」

・ 初井　宇記　理化学研究所　放射光科学研究センター　半導体プロジェクトリーダー 　

　ご講演題目「SPring-8が拓く先端半導体解析技術の新展開」

チュートリアル

・上田　修　明治大学研究・知財戦略機構　客員研究員　 　

　ご講演題目「半導体発光デバイスの故障（劣化）解析技術と解析事例」

イブニングセッション

 ・朝比奈　俊輔 　日本電子　 　

　ご講演題目「海外の半導体故障解析技術の最新動向：IPFA・ISTFA参加報告」